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      產品詳情
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      通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡

      描述:SEM3200是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質量、可兼容低真空模式、在不同的視場範圍下均可得到高分辨率圖像。
      大景深,成像富有立體感。豐富的擴展性,助您在顯微成像的世界中盡情探索。

      更新時間:2024-09-10
      訪問次數:1199
      廠商性質:代理商
      詳情介紹

      產品特點(*為選配件)

      低電壓

      碳材料樣品,低電壓下,穿透深度較小,可以獲取樣品表麵真實形貌,細節更豐富。

      低電壓-碳高電壓-碳

      毛發樣品,在低電壓下,電子束輻照損傷減小,同時消除了荷電效應。

      低電壓-毛發高電壓-毛發

      低真空

      過濾纖維管材料,導電性差,在高真空下荷電明顯,在低真空下,無需鍍膜即可實現對不導電樣品的直接觀察。

      低真空高真空

      大視場

      生物樣品,采用大視場觀察,能夠輕鬆獲得瓢蟲整體形貌及頭部結構細節,展現跨尺度分析。

      低電壓-毛發高電壓-毛發

      導航&防碰撞

      光學導航

      想看哪裏點哪裏,導航更輕鬆
      標配倉內攝像頭,可拍攝高清樣品台照片,快速定位樣品。

      光學導航
      手勢快捷導航

      可通過雙擊移動、鼠標中鍵拖動、框選放大,進行快捷導航
      如框選放大:在低倍導航下,獲得樣品的大視野情況,可快速框選您感興趣的樣品區域,提高工作效率。

      手勢快捷導航手勢快捷導航
      防碰撞技術

      采取多維度的防碰撞方案:
      1. 手動輸入樣品高度,精準控製樣品與物鏡下端距離,防止發生碰撞;
      2. 基於圖像識別和動態捕捉技術,運動過程中對倉內的畫麵進行實時監測;
      3. 硬件防碰撞,可在碰撞一瞬間停止電機,減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能)

      防碰撞技術

      特色功能

      智能輔助消像散

      直觀反映整個視野的像散程度,通過鼠標點擊清晰處,可快速調節像散至最佳。

      智能輔助消像散操作圖智能輔助消像散結果圖
      自動聚焦

      一鍵聚焦,快速成像。

      自動聚焦操作圖自動聚焦結果圖
      自動消像散

      一鍵消像散,提高工作效率。

      自動消像散操作圖自動消像散結果圖
      自動亮度對比度

      一鍵自動亮度對比度,調出灰度合適圖像。

      自動亮度對比操作圖自動亮度對比結果圖
      多種信息同時成像

      SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像。可同時觀察到樣品的形貌信息和
      成分信息。

      多種信息同時成像BSE多種信息同時成像SE
      多種信息同時成像BSE+SE
      快速圖像旋轉

      拖動一條線,圖像立刻“擺正角度"。

      快速圖像旋轉操作圖快速圖像旋轉結果圖

      豐富拓展性

      掃描電子顯微鏡不僅局限於表麵形貌的觀察,更可以進行樣品表麵的微區成分分析。
      SEM3200接口豐富,除支持常規的二次電子探測器(ETD)、背散射電子探測器(BSED)、X射線能譜儀(EDS)外,也預留了諸多接口,如電子背散射衍射(EBSD)、陰極射線(CL)等探測器都可以在SEM3200上進行集成。

      背散射電子探測器
      二次電子成像和背散射電子成像對比

      背散射電子成像模式下,荷電效應明顯減弱,並且可以獲得樣品表麵更多的成分信息。

      鍍層樣品:

      鍍層樣品SE鍍層樣品BSE

      鎢鋼合金樣品:

      鎢鋼合金樣品SE鎢鋼合金樣品BSE
      四分割背散射電子探測器——多通道成像

      探測器設計精巧,靈敏度高,采用4分割設計,無需傾斜樣品,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

      四個單通道的陰影像

      成分像

      能譜

      LED小燈珠能譜麵分析結果。

      電子背散射衍射

      鎢燈絲電鏡束流大,滿足高分辨EBSD的測試需求,能夠對金屬、陶瓷、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析。
      該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖,能夠識別晶粒大小和取向,判斷晶界和孿晶,對材料組織結構進行精確判斷。


      應用案例

      普通芯片-1

      普通芯片-1

      普通芯片-2

      普通芯片-2

      負極-碳

      負極-碳

      負極-碳包矽

      負極-碳包矽

      正極-鈷酸鋰

      正極-鈷酸鋰

      正極-錳酸鋰

      正極-錳酸鋰

      太陽能電池-1

      太陽能電池-1

      太陽能電池-2

      太陽能電池-2

      高分子泡沫

      高分子泡沫

      催化劑-MOF材料

      催化劑-MOF材料

      2A12鋁合金析出相

      2A12鋁合金析出相

      Mg-Zn合金化合物層

      Mg-Zn合金化合物層

      不鏽鋼-黃銅焊接件

      不鏽鋼-黃銅焊接件

      鈦合金基體組織

      鈦合金基體組織

      合金斷口脆性+韌性

      合金斷口脆性+韌性

      韌性斷口

      韌性斷口

      鋼鐵夾雜物BSE

      鋼鐵夾雜物BSE

      鋼鐵夾雜物SE

      鋼鐵夾雜物SE

      矽藻-1

      矽藻-1

      矽藻-2

      矽藻-2

      雞葡萄球菌-1

      雞葡萄球菌-1

      雞葡萄球菌-2

      雞葡萄球菌-2

      大米

      大米

      糯米澱粉顆粒-1

      糯米澱粉顆粒-1

      糯米澱粉顆粒-2

      糯米澱粉顆粒-2

      受潮鹽顆粒

      受潮鹽顆粒

      粉體-鈦酸鋇

      粉體-鈦酸鋇

      粉體-硫酸鎂

      粉體-liusuan鎂

      粉體-氧化鋁

      粉體-氧化鋁

      過濾功能材料

      過濾功能材料

      岩石

      岩石

      納米材料-二氧化矽微球

      納米材料-二氧化矽微球

      SiC陶瓷BSE

      SiC陶瓷BSE

      SiC陶瓷SE

      SiC陶瓷SE

      陶瓷複合材料

      陶瓷複合材料

      產品參數

      型號SEM3200ASEM3200
      電子光學係統電子槍類型預對中型發叉式鎢燈絲電子槍
      分辨率高真空3 nm @ 30 kV(SE)
      4 nm @ 30 kV(BSE)
      8 nm @ 3 kV(SE)
      *低真空3 nm @ 30 kV(SE)
      放大倍率1-300,000x(底片倍率)
      1-1000,000x(屏幕倍)
      加速電壓0.2 kV~30 kV
      成像係統探測器二次電子探測器(ETD)
      *背散射電子探測器、*低真空二次電子探測器、*能譜儀EDS等
      圖像保存格式TIFF、JPG、BMP、PNG
      真空係統真空模式高真空優於5×10-4 Pa
      *低真空5~1000 Pa
      控製方式全自動控製
      樣品室攝像頭光學導航
      樣品倉內監控
      樣品台配置三軸自動五軸自動
      行程X: 120 mmX: 120 mm
      Y: 115 mmY: 115 mm
      Z: 50 mmZ: 50 mm
      /R: 360°
      /T: -10°~ +90°
      軟件語言中文
      操作係統Windows
      導航光學導航、手勢快速導航
      自動功能自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散
      特色功能智能輔助消像散、*大圖拚接(選配軟件)
      安裝要求房間長 ≥ 3000 mm,寬 ≥ 4000 mm,高 ≥ 2300 mm
      溫度20 ℃~25 ℃
      濕度≤ 50 %
      電氣參數電源AC 220 V(±10 %),50 Hz,2 kVA
      掃描電子顯微鏡SEM3200





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