描述：意大利VICIVISION 測量接觸式探頭MTL X series一套測量係統，多種選擇Vicivision提供了全新的軸測量功能，將特定的光學技術方法與接觸式探針測量係統相結合。
光學與接觸式測量結合的性能表現
一套測量係統，多種選擇
Vicivision提供了全新的軸測量功能，將特定的光學技術方法與接觸式探針測量係統相結合。
光學測量係統由遠心透鏡、光源、旋轉係統和傳感器組成，多年來為數百個軸類零件生產商提供了廣泛的測量。
如今，光學和接觸式測量功能的結合使得一個旋轉工件的全部測量控製隻需一個周期。
測量係統現如今配備了一根雷尼紹掃描探針，安裝在光源頂部。探針可更換並能覆蓋整個長度區域。
當光學測量係統快速提供靜態、幾何和螺紋測量、形狀和螺母測量時，接觸係統則檢測光學測量不了的特征。
光學與接觸的結合為最終用戶提供的測量選項：
軸向跳動和軸向全跳動
長度
平麵度
垂直度
鍵槽寬度
鍵槽深度
鍵槽長度
